Home » chip » ಮೂರ್ ನ ಕಟ್ಟಳೆ

ಮೂರ್ ನ ಕಟ್ಟಳೆ

Advertisements
ಗಾರ್ಡೆನ್ ಮೂರ್

ಗಾರ್ಡೆನ್ ಮೂರ್

Moore’s law, ಮೂರ್ಸ್ ಲಾ, ಬಹುಶ ನೀವು ಈ ಪದ ಗುಚ್ಚವನ್ನು ಕೇಳೇ ಇರ್ತೀರಿ. ಇದು vlsi ಜಗತ್ತಿನಲ್ಲೇ ವರ್ಲ್ಡ್ ಫೇಮಸ್ಸು! 😉

ಈ “ಮೂರ್ ನ ಕಟ್ಟಳೆ” ಅನ್ನುವುದು ಒಂದು ರೀತಿ empirical ಫಾರ್ಮುಲ. ಅಂದ್ರೆ ಅನುಭವದಿಂದ ಗಮನಕ್ಕೆ ಬಂದಿದ್ದು. ಯಾವುದೇ ಲೆಕ್ಕ , ಫಾರ್ಮುಲಗಳು ಇಲ್ಲಿ ಈ ಸಂಬಂಧವನ್ನು ಸಾಧಿಸುವಲ್ಲಿ ಪ್ರಾಮುಖ್ಯತೆ ವಹಿಸಲ್ಲ.

ಈ ಕಟ್ಟಳೆ ಏನು ಹೇಳುತ್ತಪ್ಪ ಅಂದ್ರೆ ” ಒಂದು ಅಚ್ಚಿನಲ್ಲಿ (die) ಎರಕ ಒಯ್ಯಬಹುದಾದ ಟ್ರಾನ್ಸಿಸ್ಟರುಗಳ ಸಂಖ್ಯೆ ಪ್ರತಿ ಒಂದೊವರೆ ವರ್ಷಕ್ಕೆ ದುಪ್ಪಟ್ಟಾಗುತ್ತೆ .” ಇದನ್ನು ಒಂದು ರೀತಿಯಲ್ಲಿ exponential ಬೆಳವಣಿಗೆ ಅನ್ನಬಹುದು.

ಗಾರ್ಡೆನ್ ಮೂರ್ ಅನ್ನುವ ಹೆಸರನ್ನು ನೀವು ಕೇಳಿಯೇ ಇರುತ್ತೀರಿ. ಈತ ಇಂಟೆಲ್ ನ ಸಂಸ್ಥಾಪಕರಲ್ಲಿ ಒಬ್ಬ. ಮೂರ್ ನ ಕಟ್ಟಳೆ ಅನ್ನುವ “ಪ್ರವೃತ್ತಿ” ಯನ್ನು ೧೯೬೫ ರಲ್ಲೇ ಈತ ಊಹಿಸಿದ್ದ. ಆಗ ಬಂದ ಈತನ ಈ ಬರಹವೇ ಮೂರ್ ನ ಕಟ್ಟಳೆಗೆ ಮೂಲ ಅನ್ನುವುದು ಅನೇಕರ ಅನಿಸಿಕೆ.

ಈ ಪ್ರವೃತ್ತಿ ಮುಖ್ಯವಾಗಿ ಚಿಪ್ ಒಳಗಿನ ಟ್ರಾನ್ಸಿಸ್ಟರುಗಳು, ತಂತಿಗಳು ಮುಂತಾದ ಇತರ ಘಟಕಗಳು ಗಾತ್ರದಲ್ಲಿ ಕುಗ್ಗುವ ಕಾರಣದಿಂದ ಕಂಡುಬರುತ್ತೆ.

feature size ಅನ್ನುವುದು ಚಿಪ್ ನಲ್ಲಿ, ಒಂದು lithography ತಂತ್ರಜ್ಞಾನದಿಂದ ಎಳೆಯಬಹುದಾದ ಅತ್ಯಂತ ಸಣ್ಣ(ತೆಳ್ಳನೆಯ)ಗೆರೆ / ಕನಿಷ್ಟ ಗಾತ್ರದ ಆಕೃತಿಯ ಉದ್ದ ಅನ್ನಬಹುದು. ಇದು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಒಂದು ಕನಿಷ್ಠ ಗಾತ್ರದ MOS ಟ್ರಾನ್ಸಿಸ್ಟರ್ ನ ಉದ್ದಕ್ಕೆ ಸಮವಾಗಿರುತ್ತೆ. ಅಂದರೆ ಈ ಉದ್ದಕ್ಕಿಂತ ಕಡಿಮೆ ಉದ್ದದ (ಅತ್ವ ಗಾತ್ರದ) ಟ್ರಾನ್ಸಿಸ್ಟರ್ ಅನ್ನು ಎರಕ ಒಯ್ಯಲು ಆಗದು. ಈ feature size ಕಡಿಮೆ ಆದಂತೆ ಹೆಚ್ಚು ಹೆಚ್ಚು ಟ್ರಾನ್ಸಿಸ್ಟರ್ ಗಳನ್ನು ಸಿಲಿಕಾನ್ ಅಚ್ಚಿನ ಮೇಲೆ ಎರಕ ಒಯ್ಯಲು ಸಾಧ್ಯವಾಗುತ್ತೆ.

“CMOS 130nm”, “90nm process”, “45nm CMOS Technology” ಹೀಗೆ ನೀವು ಪದಗಳನ್ನು ಕೇಳಿರುತ್ತೀರಿ. ಈ ನ್ಯಾನೋಮೀಟರ್ (nm) ಅಂತ ಬಳಸುವ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನಗಳು ಎರಕ ಒಯ್ಯುವ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನಕ್ಕೆ ಸಂಬಂಧಪಟ್ಟಂತಹ feature size ಉದ್ದವೇ 🙂 .

ಮೂರ್ ನ ಕಟ್ಟಳೆ plot

ಮೂರ್ ನ ಕಟ್ಟಳೆ plot

Advertisements

1 Comment

  1. ಎರಕ ಒಯ್ಯುವ / ಎರಕ ಹೊಯ್ಯುವ?

Leave a Reply

Fill in your details below or click an icon to log in:

WordPress.com Logo

You are commenting using your WordPress.com account. Log Out /  Change )

Google+ photo

You are commenting using your Google+ account. Log Out /  Change )

Twitter picture

You are commenting using your Twitter account. Log Out /  Change )

Facebook photo

You are commenting using your Facebook account. Log Out /  Change )

Connecting to %s

%d bloggers like this: